關(guān)鍵字： 67GHZ， 雙同軸裸線， 高頻測試，治具

搞要： 本文簡要分析了67GHz 雙同軸裸線的高頻性能測試的挑戰(zhàn)及應(yīng)對方法，介紹測試樣品準(zhǔn)備的要點、測試治具的選擇、如何優(yōu)異地完成頻率高達(dá)67GHz的性能測試。

正文

因應(yīng)AI及高數(shù)據(jù)帶寬要求，雙同軸線材的應(yīng)用頻率越來越高，測試頻寬要求達(dá)到了驚人的67GHz，線材生產(chǎn)廠家的工藝管控精度更是以微米計算，普通的PCB測試方案盡管完善到極致其測試上限只能達(dá)到50GHz，超過50GHz 時由于高頻信號的反射加劇導(dǎo)致SDD21曲線抖動明顯加大，測量值將嚴(yán)重偏離產(chǎn)品的實際性能表現(xiàn)。

為了得到優(yōu)異的高頻性能，須注意特性阻抗的連續(xù)性，端接位置的特性阻抗保持在100歐姆，使用10ps的上升時間進(jìn)行端接位置的特性阻抗的分析其波動不要超過10歐姆。對雙同軸裸線的處理根據(jù)經(jīng)驗鋁箔去除長度不可超過0.5mm為佳，如圖2所示

圖2：雙同軸裸線的鋁箔去除長度不可超過0.5mm

測試治具在高頻測試中的作用至關(guān)重要，高頻測試治具不但要方便使用者操作、美觀耐用，還需保證優(yōu)異的高頻性能，因此裸線高頻測試治具的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)需保證阻抗的連續(xù)性，特別是端接位置的處理、屏蔽層的處理至關(guān)重要，裸線推入治具（圖3）與治具內(nèi)導(dǎo)體接觸后，蓋上金屬蓋板壓下膠塊固定線纜與治具（圖4）。使用10ps的上升時間進(jìn)行端接位置的特性阻抗的分析其波動不會超過10歐姆（圖5）。測試結(jié)果顯示SDD21直至67GHz曲線波動極小。（圖6）

圖3： 67GHz雙同軸裸線測試治具

圖4 67GHz雙同軸裸線測試治具

結(jié)語

通過對待測物鋁箔去除長度的控制及測試治具結(jié)構(gòu)的處理保證了端接處特性阻抗的連續(xù)性，從而獲得優(yōu)異的67GHz高頻測試性能，此方法適用于32AWG-26AWG的雙同軸裸線的高頻性能測試。