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抗輻射|宇航級16nm FinFET抗輻射FPGA有望于明年問世

 大國重器元器件 2020-09-11

 在最近的IEEE核與空間輻射效應(yīng)會議(NSREC)、元器件與系統(tǒng)的輻射效應(yīng)會議(RADECS)、軍事和宇航可編程邏輯器件會議(MAPLD)上出現(xiàn)了一些關(guān)于超深亞微米FinFET晶體管的輻射加固研究工作。

 去年ESA和NASA的FPGA討論會上,Xilinx宣布其下一代宇航級可編程邏輯器件(PLD)為RT-ZU19EG。RT-ZU19EG屬于16nm FinFET UltraScale+ MPSoC系列產(chǎn)品,將采用抗輻射加固的商用ZU19EG芯片,與V5QV QML-Y級FPGA相同的陶瓷封裝,其中RT表示輻射加固(Radiation Tolerant)。

FinFET抗輻射能力
     

 總劑量(TID)輻射損傷取決于絕緣氧化物中電荷的積累程度,以及它們?nèi)绾斡绊懹性磪^(qū)。3D晶體管和平面晶體管之間的幾何形狀變化導(dǎo)致二者對TID具有不同響應(yīng):對于一些體FinFET,側(cè)壁中的電荷積累會導(dǎo)致閾值電壓漂移,而窄鰭絕緣體上硅(SOI)晶體管則本質(zhì)抗總劑量輻射。


        單粒子效應(yīng)(SEE)取決于使器件翻轉(zhuǎn)的關(guān)鍵電荷,以及器件收集電荷的能力,這些因素都取決于器件的幾何結(jié)構(gòu)、工作電壓和電路結(jié)構(gòu)。一些FinFET需要更長的時(shí)間消除輻射導(dǎo)致的載流子。


       通常16nm低壓工藝的2D晶體管具有很好的抗總劑量和栓鎖能力。但隨著超深亞微米半導(dǎo)體邏輯密度的增大,意味著輻射攻擊會導(dǎo)致更多邏輯位翻轉(zhuǎn)。

RT-ZU19EG性能 
     

在原始性能方面,RT-ZU19EG將比賽靈思目前提供的V4和V5QV宇航級FPGA要好幾代。其速度和邏輯資源范圍大大超過了所有現(xiàn)有的SRAM型、反熔絲型和基于閃存的宇航用PLD。

表 Xilinx宇航級FPGA參數(shù)對比

然而,規(guī)模大并不意味著最好,如果在飛行器中需要小規(guī)模的數(shù)字控制或處理器件,則大規(guī)模超深亞微米PLD可能不總是最有效的(例如,功耗、PDN、尺寸、成本)數(shù)字解決方案。3D機(jī)構(gòu)FinFET晶體管顯著限制了短溝道泄露電流,供電電壓更低,同時(shí)降低了功耗。例如,與28nm工藝相比,16nm FinFET工藝器件性能可提高50%或者功耗降低50%。


       Xilinx的UltraScale + MPSoC系列是一種將處理系統(tǒng)(PS)與現(xiàn)場可編程邏輯(PL)組合在一起的異構(gòu)處理平臺。ZU19EG的處理系統(tǒng)包括3個(gè)主要的處理單元:

  • 一個(gè)四核64位ARM v8 Cortex-A53應(yīng)用處理單元(APU)

  • 雙核32位ARM v7 Cortex-R5實(shí)時(shí)處理單元(RPU)

  • 一個(gè)Mali-400圖形處理單元(GPU)

這些處理元件通過中央交換機(jī)連接到多路復(fù)用I/O(MIO)外設(shè)、各種存儲器和高速串行鏈路接口。

圖 Zynq UltraScale+ MPSoC頂層框圖

發(fā)展前景 
     

像商業(yè)領(lǐng)域一樣,F(xiàn)inFET技術(shù)在宇航領(lǐng)域具有很大潛力,我期待FinFET能夠提高衛(wèi)星和航天器的抗輻射能力和長期可靠性。首個(gè)引腳兼容的商用ZU19EG樣品將在今年下半年推出,RT-ZU19EG將在2018年發(fā)布。

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