測量電氣設(shè)備的絕緣電阻和吸收比及極化指數(shù)，是檢查設(shè)備絕緣狀況最簡便的方法，在現(xiàn)場進行設(shè)備絕緣試驗項目時，測量絕緣電阻是絕緣試驗的第一個項目，檢查設(shè)備是否有嚴重缺陷。

為什么絕緣測試中不能只測量絕緣電阻？

因為只有當(dāng)絕緣缺陷貫通于兩極之間時，絕緣電阻測量才比較靈敏。

若絕緣只存在局部缺陷，而兩極間仍保持有部分良好絕緣,絕緣電阻很少下降或沒有變化,測量絕緣電阻試驗便不能發(fā)現(xiàn)此類缺陷。

此時就需要通過其他參數(shù)發(fā)現(xiàn)絕緣缺陷，例如吸收比，極化指數(shù)和介質(zhì)放電率。同時測量這些參數(shù)，可有效監(jiān)測出絕緣是否有貫通或集中性缺陷，整體受潮或貫通性受潮等。

• 功能：大致評估設(shè)備絕緣情況好壞

• 定義：在設(shè)備絕緣結(jié)構(gòu)的兩個電極之間施加的直流電壓值與流經(jīng)該電極的泄漏電流值之比。若無特殊說明，均值加壓1min的測試值。
  

• 測試標(biāo)準(zhǔn)：

• 功能：發(fā)現(xiàn)隱藏絕緣缺陷，如測量絕緣不良、整體受潮、絕緣油嚴重劣化、外部絕緣部分臟污或測量線斷線，絕緣老化等

• 定義：在同一次絕緣電阻試驗中，1min時的絕緣電阻值與15s時的絕緣電阻值之比。
  

• 測試標(biāo)準(zhǔn)：

• 功能：發(fā)現(xiàn)隱藏絕緣缺陷，如測量絕緣不良、整體受潮、絕緣油嚴重劣化、外部絕緣部分臟污或測量線斷線，絕緣老化等

• 定義：在同一次絕緣電阻試驗中，10min中時的絕緣電阻值與1min時的絕緣電阻值之比值。
  

• 測試標(biāo)準(zhǔn)：

• 功能：通過測量絕緣體的放電電流，發(fā)現(xiàn)多層絕緣中的某一層絕緣缺陷

• 定義：在絕緣測試停止加壓后，測量一分鐘內(nèi)的介質(zhì)釋放的電流。它的大小取決于測試回路中的電容和絕緣測試的終止電壓。
  

• 測試標(biāo)準(zhǔn)：絕緣層均質(zhì)的絕緣體的介質(zhì)放電率將接近于零，而可接受的多層次絕緣體的最大介質(zhì)放電率不超過2。

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