作者： 羅禹 

來源：D羅

眼電是大部分腦電研究中都不關(guān)心、想要去除的偽跡。這里簡(jiǎn)單說一下眼電的頭皮分布，以及如何從研究程序上和技術(shù)上來去除眼電對(duì)腦電成分的影響，期望對(duì)新手有一定幫助。

一、哪些東西可以引起眼電

眼電是通過布置在眼睛周邊的電極點(diǎn)記錄到的由眨眼、眼球運(yùn)動(dòng)等造成的電位。眨眼、眼球運(yùn)動(dòng)、眼肌運(yùn)動(dòng)、角膜與眼底的電位差、視網(wǎng)膜上的視覺輸入的變化、對(duì)眼球運(yùn)動(dòng)的控制（比如要求被試不眨眼）等都可以引起眼電。

視網(wǎng)膜上的視覺輸入變化造成的電位變化雖然能夠在頭皮電極點(diǎn)上記錄到，但由于幅值較小且難從眨眼、眼球運(yùn)動(dòng)造成的電位中分離出來，因此我們主要關(guān)注的是眨眼、眼球運(yùn)動(dòng)帶來的電位對(duì)ERP成分的影響。

二、眨眼

在眨眼中，眼睛上面的電位幅值要顯著高于眼睛下面，上、下的電位是極性是相反的。如下圖：

眨眼對(duì)額部電極影響最大，往后部電極走，影響越來越小，并且這種變化的速度是很快的。

自然眨眼和自主眨眼（即要求被試眨眼）在時(shí)間、幅值等方面都有差異。如下圖：

結(jié)果來自：Ota?vio Lins et al., (1993).

三、眼動(dòng)

眼動(dòng)引起電位的幅值取決于眼動(dòng)的角度，記錄電極點(diǎn)的位置以及角膜和眼底的電位差。我們主要關(guān)心眼動(dòng)的角度。一般來說，水平眼動(dòng)1度，眼電幅值變化16微伏；垂直眼動(dòng)1度，眼電幅值變化12微小伏。向上、向下、向左和向右動(dòng)的眼電沒有顯著差異。

眼動(dòng)的持續(xù)時(shí)間（從開始到峰值）不受眼動(dòng)方向的影響，受眼動(dòng)角度的影響。眼動(dòng)20度的時(shí)間（80ms左右）顯著長于眼動(dòng)10度的時(shí)間（54ms左右）。

與眨眼相同，眼動(dòng)對(duì)前部電極的影響很大，越往后影響越小。與眨眼不同的是，眼動(dòng)的影響從前往后的變化速率更慢。

四、眨眼、眼動(dòng)對(duì)不同電極點(diǎn)影響的百分比

正如前面所說，眨眼、眼動(dòng)對(duì)頭皮不同位置的電極點(diǎn)都有影響，這個(gè)影響的大小隨著電極點(diǎn)的位置變化而變化?？傮w來說是越往后越小。具體影響百分比如下圖：

結(jié)果同樣是來自Ota?vio Lins，具體的計(jì)算方法大家可以去看原文。

將眼動(dòng)角度與眼電幅值變化的關(guān)系和眼電影響不同電極點(diǎn)的百分比結(jié)合起來，就可以大概估計(jì)你的研究中眼電對(duì)具體成分可能產(chǎn)生的影響。

五、從程序和技術(shù)上去除眼電的影響

從程序上來講，一種方法是，你可以在所有被試的數(shù)據(jù)都采集完成之后，設(shè)定一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)來刪除眼電過大的被試，這樣最后統(tǒng)計(jì)分析的被試數(shù)可能少于你先前的安排；另一種方法是，你也可以一邊搜集一邊分析，如果發(fā)現(xiàn)被試的眼電影響太大，就把這個(gè)被試刪除了，另外找新的被試來替代被刪除的這個(gè)被試（replacement）。這兩種方法都有人用，但是第一種可能產(chǎn)生實(shí)驗(yàn)者效應(yīng)，即你有一個(gè)預(yù)期，然后你的標(biāo)準(zhǔn)可能就會(huì)隨著預(yù)期產(chǎn)生改變；第二種雖然也有刪除被試，但至少你是在不知道被刪除的數(shù)據(jù)對(duì)總體結(jié)果的影響的情況下做出的，偏差要小很多。Luck實(shí)驗(yàn)室是偏向第二種方法的。

從技術(shù)上來講，去除眼電的方法有多種。一種是眼電校正，比如采用ICA的方法去除眼電；另一種是眼電拒絕，即直接把眼電影響的trial刪除了，不去校正它。同樣的，兩種方法都有人用，各有利弊。詳細(xì)的可以看Luck的事件相關(guān)電位的書（第二版），里面有比較詳細(xì)的介紹。